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    失效分析檢測簡要介紹

    更新時間:2023-07-13  |  點擊率:1570

    什么是失效分析?失效分析是一門發(fā)展中的新興學科,近年開始從軍工向普通企業(yè)普及。它一般根據(jù)失效模式和現(xiàn)象,通過分析和驗證,模擬重現(xiàn)失效的現(xiàn)象,找出失效的原因,挖掘出失效的機理的活動。在提高產(chǎn)品質(zhì)量,技術開發(fā)、改進,產(chǎn)品修復及仲裁失效事故等方面具有很強的實際意義。其方法分為有損分析,無損分析,物理分析,化學分析等?!?/p>


    為什么要進行失效分析?失效分析檢測目的:


      1、明確潛在失效機理、查找失效根本原因、確定失效薄弱環(huán)節(jié),為改進產(chǎn)品設計,選材等提供依據(jù)。


      2、通過失效機理分析還可以預測可靠性,起到技術反饋作用。


      3、在提高產(chǎn)品質(zhì)量、技術開發(fā)、產(chǎn)品改進、產(chǎn)品修復及仲裁失效事故等方面具有很強的實際意義。


    廣電計量失效分析檢測能能力


      廣電計量集成電路測試與分析事業(yè)部是國內(nèi)的半導體質(zhì)量評價與可靠性提升方案技術服務提供方。廣電計量投入300多臺檢測分析設備,形成以博士、專家為核心的人才隊伍,打造8個專項實驗室及1個功能安全認證中心,為裝備制造、汽車、電力電子與新能源、5G通信、光電器件與傳感器、軌道交通與材料、晶圓廠等領域企業(yè)提供專業(yè)的失效分析、晶圓級制造工藝分析、元器件篩選、可靠性測試、工藝質(zhì)量評價、產(chǎn)品認證、壽命評估等服務,幫助企業(yè)提升電子產(chǎn)品質(zhì)量與可靠性。


    專項實驗室及認證中心

    重點能力

    AEC-Q車規(guī)元器件
    認證實驗室

    AEC-Q100/101/102/103/104/200全項目認證
    光、電、熱、機械全參數(shù)測試
    片級試驗驗證與失效分析

    IGBT及第三代
    半導體實驗室

    功率器件逆向工程與案例分析
    GBT及第三代半導體器件全參數(shù)測試
    AQG324功率器件試驗認證

    晶圓級工藝及材料
    分析實驗室

    4nm及以上芯片制程晶圓級制造工藝分析
    半導體器件納米級微結構及微區(qū)成分解析
    芯片等半導體器件顯微失效分析

    集成電路測試

    工程實驗室

    集成電路工程化測試開發(fā)
    集成電路可靠性測試開發(fā)
    集成電路小批量量產(chǎn)測試

    集成電路篩選

    與量產(chǎn)實驗室

    集成電路CP/FT/量產(chǎn)測試開發(fā)和導入
    元器件一篩/二篩
    集成電路國產(chǎn)化鑒別與結構分析

    封裝組裝及DPA實驗室

    電子元器件破壞性物理分析
    元器件質(zhì)量管控及鑒定
    板級制造工藝評價與改進

    電子電氣檢測與驗證實驗室

    電子電氣功能、性能測試
    板級工藝質(zhì)量驗證與故障定位
    5G產(chǎn)品測試與可靠性驗證

    服役評估實驗室

    器件、零部件壽命評估
    材料老化機理研究
    國產(chǎn)化驗證

    功能安全認證中心

    ISO26262功能安全ASFP培訓
    ISO26262功能安全流程(管理體系)技術服務
    IS026262功能安全技術服務
    ISO26262功能安全硬件、軟件測試
    IS026262功能安全認證審核


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