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AQG324是ECPE相關(guān)工作組基于LV324測試標(biāo)準(zhǔn)，為汽車電力電子轉(zhuǎn)換單元(PCUs)用功率模塊推出的認(rèn)證指南。其中包含QM模塊測試部分，QC模塊特性測試部分，QE環(huán)境可靠性部分，QL壽命試驗部分，AQG324制定了完善的車規(guī)級功率模塊的可靠性試驗流程，可以有效驗證產(chǎn)品可靠性，指導(dǎo)廠商更深入了解其產(chǎn)品可靠性能，從而加快產(chǎn)品開發(fā)速度，優(yōu)化工藝流程。車規(guī)功率模塊AQG324認(rèn)證服務(wù)。

廣電計量出具具有公信力的車規(guī)級電子元器件AEC-Q認(rèn)證測試報告，是國內(nèi)一家已完成AEC-Q100、AEC-Q101、AEC-Q102、AEC-Q104、AECQ200完整驗證報告的第三方檢測機(jī)構(gòu)。

X-ray無損檢測,元器件失效根源分析是一種發(fā)展成熟的無損檢測方式，目前廣泛應(yīng)用在物料檢測（IQC）、失效分析（FA）、質(zhì)量控制(QC)、質(zhì)量保證及可靠性(QA/REL)、研發(fā)(R&D)等領(lǐng)域。廣電計量可針對對金屬材料及零部件、電子元器件、電纜，裝具，塑料件等進(jìn)行X-ray無損檢測。

廣電計量積累了大量氟油液態(tài)溫度沖擊認(rèn)證試驗經(jīng)驗，可開展氟油介質(zhì)的液態(tài)溫沖試驗，轉(zhuǎn)換時間不超過10s，溫度范圍為-70℃至150℃。能夠覆蓋JEDEC、MIL、GB等標(biāo)準(zhǔn)。

錫須是從元器件焊接點的錫鍍層表面生長出來的一種細(xì)長的錫單晶，錫須的存在可能導(dǎo)致電器短路、弧光放電，以及及光學(xué)器件損壞等危害。廣電計量錫須檢查,元器件及裝備失效分析服務(wù)擁有完整的錫須檢查試驗設(shè)備，經(jīng)驗豐富的分析人才，能夠高效準(zhǔn)確的提供錫須檢查測試服務(wù)。

離子清潔度通常是指線路板的離子清潔度，由于印刷線路板的各種材料在清洗工藝時造成離子殘留，會影響電子產(chǎn)品的功能性和可靠性。最常見的離子污染導(dǎo)致的問題分別是表面腐蝕和結(jié)晶生長，最終引起了短路，過多的電流通過連接器，造成電子產(chǎn)品的最終損壞。廣電計量能提供離子清潔度測試,裝備失效分析檢驗服務(wù)。

廣電計量擁完整的剪切力拉力試驗設(shè)備、X射線透視（xray）試驗設(shè)備，并擁有完整的染色測試方法經(jīng)驗與豐富的分析人才，能夠高效準(zhǔn)確的提供焊點質(zhì)量檢測,元器件失效測試。

廣電計量可滿足各等級電子元器件篩選,元件失效分析測試需求，提供電子元器件測試、評估、質(zhì)量保證的成套方案，幫助企業(yè)及時發(fā)現(xiàn)和剔除有缺陷、易發(fā)生早期失效的元器件，提高電子元器件的使用可靠性，保障和支撐電子裝備可靠性提升。