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    IGBT及第三代半導體器件全參數(shù)測試

    簡要描述:廣電計量專家團隊深入解讀IGBT測試相關標準,建立功率模塊可靠性驗證技術能力,可以為功率半導體產業(yè)上下游企業(yè)提供IGBT及第三代半導體器件全參數(shù)測試驗證報告。

    • 廠商性質:工程商
    • 更新時間:2024-11-06
    • 訪問次數(shù):1570

    詳細介紹

    品牌廣電計量服務區(qū)域全國
    服務資質CMA/CNAS服務周期常規(guī)5-7個工作日
    服務費用視具體項目而定

    服務范圍

    IGBT及第三代半導體器件全參數(shù)測試范圍:MOSFET、IGBTDIODE、BJT,第三代半導體器件等分立器件,以及上述元件構成的功率模塊。

    檢測標準

    l  AEC-Q101器件認證

    l  MIL-STD-750半導體器件試驗?法

    l  IEC60747系列SemiconductorDevices,DiscreteDevices

    l  GB/T29332半導體器件-器件-9部分:絕緣柵雙極晶體管(IGBT)

    l  AQG324功率模塊?規(guī)認證

    檢測項目

    試驗類型試驗項?
    靜態(tài)參數(shù)BVDSS、IDSS、IGSS、VGS(th)、RDS(on)、VDS(on)、VSD、Rg、Cies、Coes、Cres、gfs、Vgs(pl)…
    動態(tài)參數(shù)td(on)、tr、td(off)、tf、Eon、Eoff、trr、Qrr、Irrm、dirr/dt、QG、QGC、QGE…
    其他參數(shù)Rth(j-c)、Unclamped Inductive Switching、RBSOA、SCSOA…

    相關資質

    CNAS

    服務背景

    功率器件在新能源汽車、智能電網(wǎng)等領域有廣泛應用,其中,IGBT技術瓶頸不斷被打破,第三代半導體功率器件也開始由實驗室階段步?商業(yè)應用。通常這些新型器件測試要求更?的電壓和功率?平,更快的開關時間,對測試設備及人員技術要求?,在研發(fā)時間與成本的雙重壓力下,全參數(shù)測試成為不少制造商的難題。

    我們的優(yōu)勢

    廣電計量積極布局新型IGBT及第三代半導體器件全參數(shù)測試業(yè)務,引進優(yōu)質測試技術,為功率半導體產業(yè)上下游企業(yè)提供器件全參數(shù)檢測服務。同時,廣電計量通過構筑檢測認證與分析?體化平臺,為客?提供器件可靠性驗證及失效分析,幫助客戶分析失效機理,指導產品設計及?藝改進。


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